光譜偏振/雙折射/穆勒陣列測(cè)量設(shè)備

光譜偏振儀Sci-Ral

光偏振態(tài)、雙折射（RO、Rth）和穆勒矩陣的光譜測(cè)量

?測(cè)量波長(zhǎng)：400 至800 nm，分辨率：2 nm

?偏振態(tài)（斯托克斯譜）測(cè)量

?雙折射（高達(dá)100,000 m）、Rth 分析

?使用穆勒矩陣評(píng)估偏振特性

?高度可定制，適用于反射率測(cè)量等。

雙折射測(cè)量

?該工具可測(cè)量整個(gè)可見(jiàn)光范圍內(nèi)光 學(xué)薄膜和波片的延遲和取向，從而實(shí) 現(xiàn)延遲波長(zhǎng)色散的實(shí)際測(cè)量和評(píng)估。

?它支持高達(dá)100,000 nm 的高分辨 率相位差分析以及手動(dòng)Rth 分析。

穆勒矩陣

穆勒矩陣測(cè)量可用于分別分析所有偏 振特性（線性二向色性、圓二向色性、 雙折射、旋光性和消偏振），從而能夠評(píng)估材料特性，例如相位差膜中的旋光性以及聚合物材料和納米顆粒所 表現(xiàn)出的線性二向色性。穆勒矩陣還 可用于模擬透射光和反射光。

偏振（斯托克斯光譜）測(cè)量

這是Sci-Ral的基本功能，用于測(cè)量光學(xué)元件等的透射/反射光的偏振狀態(tài)。 Sci-Ral可以由用戶自由設(shè)置，因此可以用于各種偏振測(cè)量。

通過(guò)測(cè)量透過(guò)圓偏光膜的光強(qiáng)，您可以輕松評(píng)估其特性：

- 識(shí)別圓偏光的旋轉(zhuǎn)方向

- 實(shí)現(xiàn)圓偏光時(shí)的波長(zhǎng)- 圓偏光片發(fā)揮其功能的波長(zhǎng)范圍

除了光學(xué)元件之外，還可以測(cè)量液晶投影儀等光學(xué)系統(tǒng)發(fā)出的光的偏振，以及偏振熒光等發(fā)光。