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深圳山河精測亮相第九屆AI/AR智能眼鏡技術論壇，三大創新產品賦能智能眼鏡精密檢測2026年6月5日，第九屆AI/AR智能眼鏡技術產業論壇將在深圳隆重舉行。本次論壇聚焦智能眼鏡核心技術、光學顯示、微型化零部件、整機集成及供應鏈協同等關鍵環節，深入探討AI/AR眼鏡從樣機到量產的技術挑戰與解決方案。作為精密檢測領域的專業企業，深圳山河精測科技有限公司將盛裝出席本次論壇，現場展出雙折射應力儀、自主設計的AR雙目虛像檢測系統以及半導體封裝上下對位貼合系統三款核心產品。三大核心產品，...
追光赴滬，智啟新程｜深圳山河精測亮相第二十一屆慕尼黑上海光博會，四大光電精密系統重磅展出2026年3月18日—20日，亞洲光電盛會——第二十一屆慕尼黑上海光博會在上海新國際博覽中心盛大啟幕。作為深耕光學檢測、精密光電裝備領域的創新企業，深圳山河精測攜四款自研核心系統亮相展會，面向半導體先進封裝、光學材料檢測、微納加工、AR光學顯示等前沿賽道，展示精密光電設備創新成果，與行業同仁共探光電產業發展新機遇。慕尼黑上海光博會匯聚激光、光學、光電檢測、精密制造上下游千家企業，是前沿技術...
在材料科學領域，理解一種物質在微小尺度下的力學行為，常常需要借助特殊的工具。超微小納米壓痕儀正是為此而生——它通過模擬傳統硬度測試的原理，將壓頭尺寸縮小到納米級別，從而在較小的區域內獲取材料的力學參數。超微小納米壓痕儀的基本工作原理基于連續剛度測量法。儀器配備一個金剛石或藍寶石制成的壓頭，通常為三棱錐形(如玻氏壓頭)或球形。測試時，壓頭以設定的加載速率垂直壓入樣品表面，同時一個高精度的位移傳感器實時記錄壓頭的位置變化。當壓頭接觸樣品后，系統會持續增加載荷，使壓頭逐漸深入材料內...
在微納加工領域，如何將設計好的圖案準確轉移到材料表面，一直是技術核心。傳統方法依賴物理掩膜版——如同用模板遮擋顏料，但制作掩膜版成本高、周期長。顯微鏡LED無掩膜曝光系統的出現，提供了一種靈活的數字光刻方案。顯微鏡LED無掩膜曝光系統的核心，是將顯微鏡的光路與數字光調制器(如數字微鏡器件DMD)結合。其工作流程可分三步：1.光源與調制：高功率LED發出均勻光束，照射到DMD芯片上。DMD由數百萬個微鏡組成，每個微鏡對應一個像素，可獨立偏轉。當設計圖案以數字文件形式輸入系統時，...
在現代光學檢測領域，虛像的測量一直是個技術難題。所謂虛像，是指光線經過光學系統后反向延長線匯聚形成的像，它無法直接投射到屏幕上，卻真實存在于光學系統的成像過程中。AR虛像成像測試-Conoscope系統正是為解決這一難題而設計的專業工具。AR虛像成像測試-Conoscope系統的核心原理基于偏振光干涉與波前分析。當一束準直偏振光穿過待測光學元件(如透鏡、波片或液晶器件)后，其偏振態與相位分布會因元件特性而發生改變。系統通過一個錐光鏡(Conoscope)將不同角度的出射光線匯...
VR-Pancake鏡片光軸相對角度測量儀通過特定的光學系統發射光線照射到被測鏡片上。例如，一些設備利用激光作為光源，當光線遇到鏡片時會發生折射、反射或干涉等現象。對于偏光鏡片，還會涉及到偏振態的改變。檢測器會接收這些經過鏡片作用后的光學信號，如干涉條紋或衍射圖案等。光電轉換與處理：接收到的光學信號被轉換為電信號。這一過程通常由光電探測器完成，它將光強的變化轉化為對應的電流或電壓波動。然后，這些模擬量的電信號會進入處理電路進行放大、濾波等操作，以提高信號質量并提取有用信息。數...
VR-Pancake鏡片內應力相位差測量儀采用了偏振光干涉原理，當一束自然光經過起偏器后變成線偏振光，再入射到待測鏡片上。由于鏡片內部存在應力，會導致材料的雙折射現象，即不同方向上的折射率有所不同。這樣，原本的線偏振光會分解為兩束相互垂直且具有不同傳播速度的偏振光(尋常光和非尋常光)。這兩束光在穿過鏡片后會產生光程差，當它們再次相遇并發生干涉時，形成的干涉圖案與光程差相關，而光程差又直接反映了鏡片內的應力大小和分布情況。通過檢測干涉條紋的形狀、間距等信息，可以計算出相位差，進...
深圳山河精測閃耀第26屆中國國際光電博覽會，多款創新產品重磅亮相深圳，2024年9月——第26屆中國國際光電博覽會（CIOE）在深圳會展中心隆重開幕。深圳山河精測攜多款光學檢測設備盛裝出席，集中展示了其在VR/AR、精密光學測量等領域的最新研發成果和技術實力。本次展會上，深圳山河精測重點推出了四款核心產品，吸引了眾多行業專家、客戶及合作伙伴的駐足關注與深入交流。眾多專業觀眾駐足交流，更有多家客戶攜帶樣品前來實測驗證，展現了行業對檢測設備的強烈需求。VR-Pancake鏡片光軸...
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