深圳山河精測亮相第九屆AI/AR智能眼鏡技術論壇，三大創新產品賦能智能眼鏡精密檢測

2026年6月5日，第九屆AI/AR智能眼鏡技術產業論壇將在深圳隆重舉行。本次論壇聚焦智能眼鏡核心技術、光學顯示、微型化零部件、整機集成及供應鏈協同等關鍵環節，深入探討AI/AR眼鏡從樣機到量產的技術挑戰與解決方案。作為精密檢測領域的專業企業，深圳山河精測科技有限公司將盛裝出席本次論壇，現場展出雙折射應力儀、自主設計的AR雙目虛像檢測系統以及半導體封裝上下對位貼合系統三款核心產品。

三大核心產品，助力產業升級

雙折射應力儀——深圳山河精測展出的Photonic Lattice二維雙折射應力儀系統是一款基于光的雙折射現象、用于測量材料內部應力分布的先進儀器。當光線穿過存在應力的透明或半透明材料時，由于應力導致的光學各向異性，會使光線產生雙折射效應。該系統具備全場測量優勢，能夠一次性獲取整個被測區域在二維平面上的應力分布情況，直觀展示材料內部的應力分布全貌。測量過程中無需與被測材料直接接觸，避免了因接觸可能對材料表面造成損傷或引入額外的應力干擾。該設備特別適用于VR/AR鏡片、光學薄膜等精密光學元件的應力檢測，為智能眼鏡光學模組的質量控制提供了可靠的計量保障。

AR雙目虛像檢測系統——這是深圳山河精測自主設計的創新產品。該系統可對AR眼鏡、車載HUD等產品的虛像質量進行全面客觀的評估，檢測項目涵蓋視場角測量（FOV）、亮度測量、SFR測量、MTF測量、FoFo對比度測量、ANSI對比度測量、TV畸變測量、亮度均勻性測量、雙目合像誤差測量以及左右顯示亮度差異測量等核心指標。系統基于偏振光干涉與波前分析原理，通過錐光鏡（Conoscope）將不同角度的出射光線匯聚，配合高分辨率圖像傳感器和角度掃描機構，捕捉虛像的角分布信息。該系統的推出為AR眼鏡從樣機到量產過程中的光學性能驗證提供了專業、高效的檢測手段，是推動AR產品性能升級的重要工具。

半導體封裝上下對位貼合系統——該系統專為半導體封裝與貼合工藝中的精密對位與檢測而設計。系統提供單相機雙視野和雙相機雙視野高低倍率兩種方案，對位精度可達1μm~10μm。光學參數方面，配備2/3英寸相機、6.5M分辨率（2.4μm像素），采用物方遠心設計，配備外置同軸藍光照明，工作距離30mm（可定制）。該系統自帶同軸點光源照明，也可集成環形光源，為半導體封裝環節的高精度貼合提供了可靠的光學對位解決方案。