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產品簡介
近紅外顯微分光測定儀
在寬波長范圍內實現高精度和高穩定性的光譜測量
反射測量顯微光譜儀
LVmicro-RS
LVmicro-RUR
各種樣本
◆由于光斑尺寸非常小，
近紅外顯微分光測定儀非常適合測量小樣品、球形或非球面樣品的曲面反射率。 使用斜夾具也可以進行角度測量
寬波長
◆通過采用專用光學系統，可以在250納米到最大1650納米的寬波長范圍內進行微觀光譜測量。
高精度高穩定
◆Lambda Vision 的專有“自動對焦"和“表面冠"功能為標準配置，因此可以最大限度地減少因測量人員變化而導致的測量數據誤差。
后部反光去除
◆通過將后部反光去除功能作為標準配置，即可在無需對測量樣本進行防反射處理的情況下進行測量。
樣本觀察
◆通過安裝樣本觀測功能，可以將觀測圖像保存到電腦上。
自動測量
◆通過其自身的“自動對焦"和“面部識別"功能，實現自動測量的 最佳效果。[全板面測量] [鏡片全表面檢測] 等，可以廣泛滿足需求。
積分球
◆通過采用積分球單元，可以高精度、高穩定性地測量透射率和 45°反射率。
測量軟件
◆「Reflect Lab」
?反射率 / 透射率
?色度（Y,x,y,dEab,L,a,b,Hab,Cab）
?厚度（FFT, 曲線擬合）
?合格/不合格判定
?打印輸出
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