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  • X射線熒光鍍層測厚儀

    X射線熒光鍍層X射線熒光鍍層測厚儀可完成鍍層厚度測量、元素分析、電鍍液分析。最多同時測量5層（4層鍍層+底材），每層可同時分析10種元素。成分測量可同時分析25種元素。1納米至120um可測測厚儀

    更新時間：2025-03-10
    產品型號：
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  • 超微小納米壓痕儀

    超微小納米壓痕儀通過減少測量環境的干擾實現高數據再現性，適用于0.5uN-2000mN的廣泛實驗負載。

    更新時間：2025-03-10
    產品型號：
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  • 顯微鏡LED無掩膜曝光系統 UTA-IA系列

    顯微鏡LED無掩膜曝光系統 UTA-IA系列是不需要使用光罩就可以完成曝光的Pattern投影式曝光設備。

    更新時間：2025-03-10
    產品型號：
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